Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

Авторы:
С. М. Вишнякова, В. И. Вишняков
Бумажная
Электронная
  • Формат: 60x84/16
  • Переплёт: мягкий
  • Год издания: 2014 г.
  • Объём: 32 стр.
  • Объём: 1.86 п.л.
  • Номер издания: 1
  • Вес: 56 г.
  • ISBN: 978-5-7038-3832-7
  • Формат: PDF
  • Объём: 32 стр.
  • Год издания: 2014 г.
  • Номер издания: 1
  • ISBN: 978-5-7038-3832-7

О книге

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде.

Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу с сайтом.
Установите актуальную версию вашего браузера или одну из современных альтернатив.