О книге
Рассмотрены оптические системы интерферометров для контроля формы выпуклых асферических поверхностей, в том числе высокоапертурных. В измерительных ветвях этих интерферометров не используются оптические элементы, диаметры которых существенно больше диаметров контролируемых поверхностей. Дано представление о методе оптической компенсации и нетрадиционной реализации метода анаберрационных точек. Много внимания уделено конструктивным особенностям, параметрам и характеристикам элементов измерительных ветвей этих интерферометров. Материалы, предлагаемые в данном учебном пособии, ранее в учебной литературе не освещались.
Для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Оптотехника", изучающих дисциплины "Оптические измерения", "Оптические измерительные и контрольно-юстировочные приборы", "Исследование и контроль оптических систем". Пособие также может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании и выполнении квалификационных работ.
