Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов

Авторы:
К. В. Малышев, Е. А. Скороходов, В. М. Башков
Бумажная
Электронная
  • Формат: 60x84/16
  • Переплёт: мягкий
  • Год издания: 2007 г.
  • Объём: 44 стр.
  • Объём: 2.56 п.л.
  • Номер издания: 1
  • Вес: 70 г.
  • ISBN:
  • Формат: PDF
  • Объём: 44 стр.
  • Год издания: 2007 г.
  • Номер издания: 1
  • ISBN:

О книге

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ.

Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу с сайтом.
Установите актуальную версию вашего браузера или одну из современных альтернатив.