Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа

Авторы:

К. В. Малышев, В. М. Башков, С. А. Мешков

зонные структуры квазижидкие нанослои надбарьерный перенос наноматериалы нанослои работы выхода резонансное туннелирование сканирующий туннельный микроскоп токопереносе фрактальные характеристики шумовые характеристики электронные состояния

Учебно-методическое пособие Нанотехнологии

Бумажная

Электронная

Формат: 60x84/16
Переплёт: мягкий
Год издания: 2007 г.
Объём: 42 стр.
Объём: 2.44 п.л.
Номер издания: 1
Вес: 68 г.
ISBN:

О книге

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ.

Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.

Отзывы

Оставить отзыв +