• Главная
  • Каталог
  • Модели и методы оценки остаточного ресурса изделий радиоэлектроники
Скачать прайс-лист
Читать онлайн

Модели и методы оценки остаточного ресурса изделий радиоэлектроники

Авторы:
Г. С. Садыхов, В. П. Савченко, Н. И. Сидняев
асимптотические оценки гарантированные оценки доверительные оценки законы надежности изделия радиоэлектроники интенсивность отказов коэффициенты смещения лидерная эксплуатация остаточный ресурс переменный режим эксплуатации поток отказов предельные оценки ремонтопригодность старение комплектующих структурная надежность схемная избыточность техническое диагностирование точечные оценки штатный режим эксплуатации
Монография Радиоэлектронная техника
Бумажная
Электронная
  • Формат: 70x100/16
  • Переплёт: твёрдый
  • Год издания: 2015 г.
  • Объём: 383 стр.
  • Объём: 31.12 п.л.
  • Номер издания: 1
  • Вес: 718 г.
  • ISBN: 978-5-7038-4006-1
  • Формат: PDF
  • Объём: 383 стр.
  • Год издания: 2015 г.
  • Номер издания: 1
  • ISBN: 978-5-7038-4006-1

О книге

Определены количественные показатели остаточного ресурса и установлены их точечные, доверительные и гарантированные оценки. Исследована достижимость гарантированных непараметрических оценок, найдены их коэффициенты смещения. Получены асимптотические и предельные оценки показателей остаточного ресурса, доказаны их экстраполяционные и интерполяционные оценки. С использованием физических моделей расходования ресурса изделий радиоэлектроники получены формулы для расчета и оценки показателей ресурса в штатном режиме эксплуатации через показатели для форсированного режима. Приведены примеры схемной избыточности радиоэлектронной аппаратуры в качестве источника увеличения ресурса.

Для научных работников. Может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов технических вузов, а также специалистам в области надежности радиоэлектронной аппаратуры.
Список литературы
  1. Карташов Г.Д. Принципы расходования ресурса и их использование для оцен-ки надежности. М.: Знание, 1984. С. 51–96.
  2. ГОСТ Р 27.002–2009. Надежность в технике. Термины и определения. М.: Стандартинформ, 2011. 32 с.
  3. Frankel E.G. Reliability analysis // Naval Engineers Journal. 1962. Vol. 74, no. 4, p. 619–627.
  4. Садыхов Г.С. Показатели остаточной долговечности и их оценки в задачах продления сроков эксплуатации технических объектов. М.: Знание, 1986. С. 3–55.
  5. ГОСТ 25866–83. Эксплуатация техники. Термины и определения. М.: Изд-во стандартов, 1983. 28 c.
  6. Садыхов Г.С. Показатель остаточного ресурса и его свойства // Изв. АН СССР. Техническая кибернетика. 1985. № 4. С. 98–102.
  7. Гнеденко Б.В. Курс теории вероятностей. 5-е изд. М.: Наука, 1969. 298 с.
  8. Карлин С., Стадден В. Чебышевские системы и их применение в анализе и статистике. М.: Наука, 1976. 568 с.
  9. Садыхов Г.С. Критерии оценок безопасной эксплуатации технических объек-тов // Проблемы машиностроения и надежности машин. 2005. № 1. С. 119–122.
  10. Кендалл М.Д., Стьюарт А. Статистические выводы и связи. М.: Наука, 1973. 320 с.
  11. Статистические задачи отработки систем и таблицы для числовых расчетов пока-зателей надежности / Р.С. Судаков, Н.А. Северцев, В.Н. Титулов и др. М.: Высш. шк., 1975. 320 с.
  12. Садыхов Г.С. Теоретические основы остаточного дискретного ресурса техни-ческих объектов // Проблемы машиностроения и надежности машин. 1999. № 3. С. 102–108.
  13. Гнеденко Б.В., Беляев Ю.К., Соловьев А.Д. Математические методы в теории надежности. М.: Наука, 1965. 524 с.
  14. Барлоу Р., Прошан Ф. Математическая теория надежности. М.: Сов. радио, 1969. 488 с.
  15. Беляев Ю.К. Простые доверительные оценки квантилей стареющих распреде-лений продолжительности безотказной работы // Изв. АН СССР. Техническая кибер-нетика. 1981. № 1. С. 67–76
  16. ГОСТ 27.003–83. Надежность в технике, выбор и нормирование показателей надежности. Основные положения. М.: Изд-во стандартов, 1984. 30 с.
  17. Седякин Н.М. Об одном физическом принципе теории надежности // Изв. АН СССР. Техническая кибернетика. 1966. № 3. С. 80–87.
  18. Садыхов Г.С. Показатель остаточной долговечности и их оценки в задачах продления сроков эксплуатации технических объектов. М.: Знание, 1986. 52 с.
  19. ГОСТ 27.505–86. Надежность в технике. Система сбора, обработки и анализа информации о надежности бытовой радиоэлектронной аппаратуры и комплектую-щих ее изделий. М.: Изд-во стандартов, 1986. 35 с.
  20. Левин Б.Р. Теоретические основы статистической радиотехники: в 2 кн. 2-е изд. М.: Сов. радио, 1974. 220 c.
  21. Садыхов Г.С., Савченко В.П. Средняя доля остаточного ресурса и ее непара-метрические оценки // Вопросы теории безопасности и устойчивости систем. М.: Вы-числительный центр РАН, 1999. Вып.1. С. 65–72.
  22. Карташов Г.Д. Модели расходования ресурса изделий электронной техники: Обзоры по электронной технике. М.: ЦНИИ Электроника, 1977. Вып. 1(473). 20 с.
  23. Sadykhov G.S., Savchenko V.P., Gulyaev Ju.V. Estimation of the Residual Life for Items of Equipment, Based on a Physical Model of Additive Accumulation of Damages// The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System, Physics-Doklady, Vol. 40, Issue 8, August. 1995. P. 397–400.
  24. Гродзенский С.Я. Физические методы обеспечения и оценки надежности электронных приборов: Обзоры по электронной технике. М.: ЦНИИ Электроника, 1981. Вып. 8(797). 98 с.
  25. ГОСТ Р27.503–81 (СТ СЭВ 2863-81). Надежность в технике. Система сбора и обработки информации. Методы оценки показателей надежности. M.: Изд-во стан-дартов, 1982. 29 с.
  26. Sadykhov G.S., Savchenko V.P., Fedorchuk Kh.R., Gulyaev Ju.V. A Nonparametric Method for Estimation of the Lower Confidence Limit of the Mean Residual Life of Equipment Items// The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System, Physics-Doklady, Vol. 40, Issue 7, July. 1995. P. 343–345.
  27. Вопросы математической теории надежности / Под ред. Б.В. Гнеденко. Е.Ю. Бар-зилович, Ю.Е. Беляев и др. М.: Радио и связь, 1983. 376 с.
  28. Ермаков С.М. Методы Монте-Карло и смежные вопросы. М.: Наука, 1975. 328 с.
  29. Большев Л.Н., Смирнов Н.В. Таблицы математической статистики. М.: ВЦ АН СССР, 1968. 370 с.
  30. Садыхов Г.С., Кузнецов В.И. Методы и модели оценок безопасности сверхна-значенных сроков эксплуатации технических объектов. М.: ЛКИ, 2007. 144 с.
  31. Самсонов B.C. Определение экономической эффективности продления сроков эксплуатации ИЭТ // Электронная техника. Вып. 3(52). С. 18–19.
  32. Sadykhov G.S., Savchenko V.P. Dependence of the Operating-Life Index on the Characteristics of Life-Reserve Spending // The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System, Physics-Doklady, Issue 7, July. 1998. Vol. 43. P. 412–414.
  33. Садыхов Г.С. Оценка параметра потока отказов объекта через экстремальные показатели надежности комплектующих элементов // Автоматика и телемеханика. 1982. № 5. С. 147–151.
  34. Интегральные уравнения / П.П. Забрейко, А.Д. Соловьев, И.А. Петров и др. М.: Наука, 1968. 280 с.
  35. Лаврентьев М.А., Шабат Б.В. Методы теории функции комплексного пере-менного. М.: Физматгиз, 1958. 420 с.
  36. Садыхов Г.С. Оценка надежности однотипных изделий, образующих неодно-родную смесь. М.: Знание, 1982. С. 3–36.
  37. Кокс Д.Р., Смит В.Л. Теория восстановления. М.: Сов. радио, 1967. 299 с.
  38. Смирнов Н.В., Дунин-Барковский И.В. Курс теории вероятностей и математи-ческой статистики для технических приложений. М.: Наука, 1969. 511 с.
  39. Садыхов Г.С., Бабаев И.А. Оценка условного распределения отказов в пуассо-новском потоке через биномиальный закон // Наука и образование: электроное научно-техническое издание. 2013. № 8. С. 143–150.
  40. Parsen E. On estimation of a probability density function and mode // Ann. Math. Stat. 1962. Vol. 33, no. 3. P. 1065–1076.
  41. Райншке К. Модели надежности и чувствительности систем. М.: Мир, 1979. 452 с.
  42. Садыхов Г.С., Савченко В.П. Зависимость показателей ресурса от характери-стик его расходования // Докл. РАН. 1998. Т. 361, № 2. С. 189–191.
  43. Савченко В.П. Непараметрические методы расчета, оценок и прогнозирования показателей остаточного ресурса изделий. М.: Госстандарт, 1997. 123 с.
  44. Кульбак С. Теория информации и статистика. М.: Наука, 1967. 420 с.
  45. Садыхов Г.С., Савченко В.П. Оценка остаточного ресурса с использованием физической модели аддитивного накопления повреждений // Докл. РАН. 1995. Т. 343, № 4. С. 469–472.
  46. ГОСТ 27.103–83. Надежность в технике. Критерии отказов и предельных со-стояний. Основные положения. М.: Изд-во стандартов, 1984. 20 с
  47. Качанов Л.М. Основы механики разрушения. М.: Наука, 1974. 312 с.
  48. Рябинин И.А. Основы теории и расчета судовых электроэнергетических си-стем. Л.: Судостроение, 1971. 456 с.
  49. Садыхов Г.С. Остаточный ресурс технических объектов и методы его оценки. М.: Знание, 1986. 50 с.
  50. Интерполяционные и экстраполяционные оценки среднего количества безот-казных срабатываний радиоэлектронной аппаратуры при частых включениях в рабо-ту и выключениях из нее / Г.С. Садыхов, В.П. Савченко, А.А. Артюхов, О.И. Казако-ва / Наукоемкие технологии 2014. Т. 15, № 2. С. 20–26.
  51. Reynolds F.H., Parrott Z., Braithwaite D. Use of Tests at Elevated Temperatures to Accelerate the Life of an M0S Integrated Circuit // Proc. Inst. Elec. End. 1971. Vol. 118. P. 475–485.
  52. Крутяков Л.Н. Оценка качества и надежности тонкопленочных конденсато-ров на основе двуокиси кремния // Электронная техника. Сер. 8. 1979. Вып. 6 (76). С. 14–19.
  53. Радиационная стойкость материалов радиотехнических конструкций: Спра-вочник / Под ред. Н.А. Сидорова, В.К. Князева. М.: Сов. радио, 1976. 390 с.
  54. Острейковский В.А. Физико-статистические модели надежности элементов ЯЭУ. М.: Энергоатомиздат, 1986. 200 с.
  55. Абдуллаев Г.В., Джафаров Т.Д. Атомная диффузия в полупроводниковых структурах. М.: Атомиздат, 1980. 280 с.
  56. Fisher J.C. Calculation of Diffusion Penetration Curvere for Surface and Drain Foundary Diffusion // J. Appl. Phys. 1951. Vol. 22, no. 1. P. 74–77.
  57. Gilmer G.Н., Farrell H.H. Grain-Foundary Diffusion in Thin Films. J. The Isolated Grain Foundary // J. Appl. Phys. 1976. Vol. 47, no. 9. P. 3792–3798.
  58. Gilmer G.H., Farrell H.H. Grain-Foundary Diffusion in Thin Films. II. Mutiple Grain Foundaries und Surfase Diffusion // I.J. Appl. Phys. 1976. Vol. 47, no. 10. P. 4373–4380.
  59. Мишин Ю.М., Разумовский И.М. О возможности определения диффузионной ширины границы раздела и коэффициента граничной диффузии в рамках модели Фишера // Физика металлов и металловедения. 1982. Т. 53, вып. 4. С. 756–763.
  60. Харитонов В.П., Никонов Б.П., Шмелева Н.И. Измерение температуры катода косвенного накала электронных приборов // Электронная техника. 1979, Вып. 12. С. 13–20.
  61. Исследование электронной температуры оксидных катодов / А.Б. Киселев, Н.А. Соколов, С.П. Ходневич и др. // Электронная техника. 1969. Вып. 1. С. 57–60.
  62. Добрецов П.Н., Гомоюнова М.В. Эмиссионная электроника. М.: Наука, 1966. 140 с.
  63. Ходневич С.П. Определение эмиссионной неоднородности поверхности ре-альных катодов по вольт-амперным характеристикам // Электронная техника. 1969. Вып. 4. С. 119–130.
  64. Bodmer H.G. New Method for Measuring Cathode Activity // JRETrans. on ED-5. 1958. N. 1. P. 43–44.
  65. Автоматизированный контроль эмиссионных характеристик цветных кине-скопов / Жилкин B.C., Иванов А.А., Нестеренко А.Г. и др. // Электронная техника. Сер. 1. «Электроника СВЧ". 1985. Вып. 3. С. 34–36.
  66. Kirdy P.L. Jhiel-Harmonic Index as Measure of the Non-Linearity of Fixed Resis-tor Electronic Engineering. 1965. Nо. 11. P. 18–29.
  67. Геликман Б.Ю., Кристаллинский Л.Л. Применение методов неразрушающего контроля качества при производстве резисторов и конденсаторов // Электронная тех-ника. Сер.8 «Радиодетали», 1973, Вып.6. С.20-25.
  68. Тучкова Н.Н. Об оценке качества резисторов типа МЛТ по величине спек-тральной плотности шума // Электронная техника. Вып. 2. 1970. С. 18–23.
  69. Стратонович Р.А. Нелинейная неравновесная термодинамика. М.: Наука, 1985. 140 с.
  70. Садыхов Г.С., Кузнецов В.И., Алшехаби С. Непараметрические оценки опасных и безопасных состояний ремонтируемого объекта. Фундаментальные проблемы си-стемной безопасности. ВЦ им. А.А. Дородницына РАН, 2008. Вып. 1. C. 260–266.
  71. Садыхов Г.С., Алшехаби С. Оценка длительности безопасной эксплуатации и допустимого числа безопасных срабатываний свыше назначенных уровней для ста-реющих техногенно-опасных объектов // Проблемы машиностроения и надежности машин. 2008. № 3. C. 120–126.
  72. Садыхов Г.С., Некрасова О.В. Непараметрические и предельные оценки дли-тельности безопасного срока эксплуатации техногенно-опасных объектов // Труды института системного анализа РАН. 2010. Т. 53. C. 191–198.
  73. Садыхов Г.С., Некрасова О.В. Расчет показателей безопасности эксплуатации подсистемы с параллельно нагруженными элементами в составе техногенно-опасного объекта // Проблемы машиностроения и надежности машин. 2011. № 1. C. 107–113.
  74. Садыхов Г.С. Расчет показателей контроля технического состояния техноген-но-опасного объекта // Проблемы машиностроения и надежности машин. 2014. № 4. С. 120–126.
  75. Садыхов Г.С. Гамма-процентные показатели эксплуатационной надежности и их свойства // Изв. АН СССР. Техническая кибернетика. 1983. № 6. С. 185–187.
  76. Судаков Р.С. Испытания технических систем. М.: Машиностроение, 1988. 272 с.
  77. Mann N.R., Shafer R.E., Singpurwalla N.D. Methods for Statistical Analysis of Reli-ability and Life Data. N.Y.: Wiley, 1974. 522 p.
  78. Meeker W.Q., Escobar L.A. Statistical Methods for Reliability Data N.Y.: Wiley, 1998. 701 p.
  79. Sudo М., Makano V. Microelectronics and reliability, 1985. Vol. 25. Nо 3. Pр. 87–92.
  80. Воw1сs J.В. A scrvcy of reliability prediction procedures for microelectronic de-vice//IEEE Trans. Reliab, 1992. Vol. 41. Nо 1. Pр. 2–12.
  81. Spenser J.I. Proc. annu. reliab. and maintainability Symposium. Las Vegas, 1986. Jan. 28–30. 1986. Pр. 175–179
  82. Dragan M. Pantic. Maturity factors in predicting failure rate for linear integrated cir-cuits // IEEE transaction on reliability, 1984. Vol. 33. Nо 33. Pр. 208–212.
  83. Lathra P. MIL-HDBK-217: what is wrough with it? // IEEE Trans. Rel, 1990. Vol. 39. Nо 5. Pр. 518–520.
  84. Павлов И.В. Оценка надежности для модели ускоренных испытаний с пере-менной нагрузкой // Надежность, 2013. № 1. С. 68–79.
  85. Mоrris S.F. Use and application of MIL-HDBK-217// Solid Slate Technology, 1990. Vol. 33. Nо 6. Pр. 65–69.
  86. Patrick D.T. Reliability prediction for microelectronic system// Proc. annu. reliab. and maintainability Symposium, 1983. P. 452
  87. O'Connor P. Reliability prediction: Help or hoax? // Solid State Technology, 1990. Vol. 33. Nо 8. Pр. 59–61.
  88. Маджарова Т.Б. Надежность больших интегральных схем // Зарубежная ра-диоэлектроника, 1978. № 1. С. 143–147.
  89. Бородин Г.А., Иванов В.А. Методы расчета надежности запоминающих устройств // Зарубежная радиоэлектроника, 1989. № 2. С. 92–111.
  90. Крымский Э.Ф. Два подхода к оценке безотказности ИС с повышенной степе-нью интеграции // Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника, 1980. Вып. 4(88). С. 104–112.
  91. ГОСТ 18725–83. Микросхемы интегральные. Общие технические. М., 1983. 27 с.
  92. Горлов М.И. Современное состояние проблемы надежности кремниевых би-полярных ИС // Обзоры по электронной технике. Сер. 8. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания. М., 1984. Вып 1 (1019). 63 с.
  93. AIIеn R.J., Roesсh W.J. Reliability prediction: the applicability of high temperature testing // Solid State Technology, 1990. Vol. 33. Nо 9. Pр. 103–108.
  94. Сидняев Н.И. Теория планирования эксперимента и анализ статистических данных: учеб. пособие. М.: Юрайт, 2011. 399 с.
  95. Сидняев Н.И. Математическое моделирование оценки надежности объектов сложных технических систем // Проблемы машиностроения и надежности машин, 2003, № 4. С. 24–31.
  96. Напряженно-деформированное состояние кристаллов в процессе сборки / М.И.Горлов, О.М. Золотухина, В.И. Авербах и др. // Электронная промышленность, 1989. Вып. 8. С. 60–62.
  97. Смирнов Н.И., Широков В.Б. Оценка безотказности интегральных микро-схем. М., 1983. 102 с.
  98. Derr J.H., van Hoorde G.R., Girdis J.J. Predicting the reliability of systems using complex MOS/LSI devices in automotive application // Proc.l875 annu. rcliab. and main-tainability Symposium. Washington, 1975. Pp. 366–371.
  99. Вrennоm T.R. Should us MIL-HDBK-217 be 8888// IEEE Trans. Reliab, 1988. Vol. 37. Nо 5. Pp. 474–475.
  100. Pecht M.,Wen-Chang Kang. Acritique of MIL-HDB-217E reliability prediction methods 33 // IEEE Trans. Reliab, 1988. Vol. 37, No 5. Pp. 453–457
  101. Sidnyaev N.I., Andreytseva K.S. Independence of the Residual Quadratic Sums in the Dispersion Equation with Noncentral χ2-Distribution // Applied Mathematics, 2011. Vol. 2. No. 10 Pp. 1303–1308, DOI: 10.4236/am.2011.210181 URL: http://www.scirp.org/journal/am.
  102. Кейджян Г.А. Прогнозирование надежности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС. М., 1987. 152 с.
  103. Барлоу Р., Прошан Ф. Математическая теория надежности. М.: Советское ра-дио, 1969. 488 с.
  104. Вопросы математической теории надежности / Е.Ю. Барзилович, Ю.Е. Беляев, В.А. Каштанов, И.Н. Коваленко, А.Д. Соловьев, И.А. Ушаков и др.; под ред. Б.В. Гне-денко М.: Радио и связь, 1983. 376 с.
  105. ГОСТ 27.002–89. Надежность в технике. Термины и определения. М.: Изд-во стандартов, 1990. 37 с.
  106. ГОСТ 27.503–81 (СТ СЭВ 2863–81). Надежность в технике. Система сбора и обработки информации. Методы оценки показателей надежности. M.: Изд-во стан-дартов, 1982. 29 с.
  107. Садыхов Г.С. Показатель остаточного ресурса и его свойства // Изв. АН СССР. Техническая кибернетика, 1985. № 4. С. 98–102.
  108. A. Nonparametric Method for Estimation of the Lower Confidence Limit of the Mean Residual Life of Equipment Items / Sadykhov G.S., Savchenko V.P., Fedorchuk Kh.R. ets. // The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System. Physics-Doklady, July 1995. Vol. 40. Issue 7. Рp. 343–345.
  109. Ермаков С.М. Метод Монте-Карло и смежные вопросы. М.: Наука, 1975. 328 с.
  110. Сидняев Н.И. Теория вероятностей и математическая статистика: учеб. посо-бие. М.: Юрайт, 2011. 310 с.
  111. Садыхов Г.С. Гамма-процентные показатели эксплуатационной надежности и их свойства // Изв. АН СССР. Техническая кибернетика, 1983. № 6. С. 185–187.
  112. Садыхов Г.С., Савченко В.П. Средняя доля остаточного ресурса и ее непара-метричкие оценки // Вопросы теории безопасности и устойчивости систем. Вычисли-тельный центр РАН, 1999. Вып. 1. С. 65–72.
  113. Левин Б.Р. Теоретические основы статистической радиотехники. М.: Сов. ра-дио, 1974. 220 c.
  114. Карташов Г.Д. Модели расходования ресурса изделий электронной техники / Обзоры по электронной технике. Сер. 8. Управление качеством и стандартизация. М.: ЦНИИ «Электроника», 1977. Вып. 1(473). 120 с.
  115. Sadykhov G.S., Savchenko V.P., Gulyaev Ju.V. Estimation of the Residual Life for Items of Equipment, Based on a Physical Model of Additive Accumulation of Damages// The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System, Physics-Doklady, August. 1995. Vol. 40. Issue 8. Рр. 397–400.
  116. Гродзенский С.Я. Физические методы обеспечения и оценки надежности электронных приборов / Обзоры по электронной технике. Сер. 1. Электроника СВЧ. М.: ЦНИИ «Электроника», 1981. Вып. 8(797). 98 с.
  117. Самсонов B.C. Определение экономической эффективности продления сроков эксплуатации ИЭТ // Электронная техника. Сер. 9. Экономика и системы управления, 1984. Вып. 3(1.52). С. 18–19
  118. Sadykhov G.S., Savchenko V.P. Dependence of the Operating-Life Index on the Characteristics of Life-Reserve Spending // The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System, Physics-Doklady, July 1998. Vol. 43, Issue 7. Р. 412–414.
  119. Чеканов А.Н. Расчеты обеспечения надежности электронной аппаратуры: учеб. пособие. М.: КНОРУС, 2012. 440 с.
  120. Сидняев Н.И. Теория фазовых переходов и статистические явления механики наноструктурированных веществ // Вестник МГТУ. Спец. вып. «Наноинженерия. Приборостроение», 2010. С. 9–22.
  121. Райншке К. Модели надежности и чувствительности систем / пер. с нем. под ред. Б.А. Козлова. М.: Мир, 1979. 454 с.
  122. Павлов И.В. Расчет показателей надежности в условиях переменного режима работы // Проблемы машиностроения и надежности машин, 2012. № 5. С. 103–108.
  123. Управление качеством электронных средств / под ред. О.П. Гудкина. М.: Высшая школа, 1994. 414 с.
  124. Reynolds F.H., Parrott Z., Braithwaite D. Use of Tests at Elevated Temperatures to Ac-celerate the Life of an M0S Integrated Circuit// Proc.Inst. Elec. End, 1971. Vol. 118. Pp. 475–485.
  125. Крутяков Л.Н. Оценка качества и надежности тонкопленочных конденсаторов на основе двуокиси кремния // Электронная техника. 1979. Сер. 8. Вып. 6 (76). С. 14–19.
  126. Fisher J.C. Calculation of Diffusion Penetration Curvere for Surface and Drain Foundary Diffusion // J.Appl.Phys., 1951. Vol. 22. No. 1. Pp. 74–77.
  127. Gilmer G.H., Farrell H.H. Grain-Foundary Diffusion in Thin Films. II. Mutiple Grain Foundaries und Surfase Diffusion // I.J. Appl. Phys., 1976. Vol. 47. No. 10. Pp. 4373–4380.
  128. Мишин Ю.М., Разумовский И.М. О возможности определения диффузионной ширины границы раздела и коэффициента граничной диффузии в рамках модели Фишера // Физика металлов и металловедения, 1982. Т. 53. Вып. 4. С. 756–763.
  129. Харитонов В.П., Никонов Б.П., Шмелева Н.И. Измерение температуры катода косвенного накала электронных приборов // Электронная техника. Сер.1. Электрони-ка СВЧ, 1979. Вып. 12. С. 13–20
  130. Исследование электронной температуры оксидных катодов / А.Б. Киселев, Н.А. Соколов, С.П. Ходневич, Л.Б. и др. // Электронная техника. Сер. 16. Генератор-ные, модуляторные и рентгеновские приборы, 1969. Вып 1. С. 57–60.
  131. Меламедов И.М. Физические основы надежности. Л.: Энергия, 1970. 152 с.
  132. Ходневич С.П. Определение эмиссионной неоднородности поверхности ре-альных катодов по вольт-амперным характеристикам // Электронная техника. Сер.1. Электроника СВЧ, 1969. Вып. 4. С. 119–130.
  133. Колпаков А.В. Надежность прижимных соединений силовых модулей в усло-виях агрессивных индустриальных сред // Силовая электроника, 2006. № 4. С. 34–40.
  134. Автоматизированный контроль эмиссионных характеристик цветных кине-скопов / B.C. Жилкин, А.А. Иванов, А.Г. Нестеренко и др. // Электронная техника. Сер.1. 1985. Вып. 3. С. 34–36.
  135. Kirdy P.L. Jhiel-Harmonic Indexas Measure of the Non-Linearity of Fixed Resistor Electronic Engineering, 1965. No. 11. Pp. 18–29.
  136. Геликман Б.Ю., Кристаллинский Л.Л. Применение методов неразрушающего контроля качества при производстве резисторов и конденсаторов // Электронная тех-ника. Сер. 8. Радиодетали, 1973. Вып. 6. С. 20–25.
  137. Тучкова Н.Н. Об оценке качества резисторов типа МЛТ по величине спектраль-ной плотности шума // Электронная техника. Сер. 8. Радиодетали, 1970. Вып. 2. С. 18–23.
  138. Вопросы качества радиодеталей / Б.Ю. Геликман, Г.А. Горячева и др. М.: Сов. радио, 1980. 130 с
  139. Sadykhov G.S., Savchenko V.P. Dependence of the Operating-Life Index on the Characteristics of Life-Reserve Spending // The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System. Physics-Doklady, July, 1998. Vol. 43. Issue 7. Рр. 412–414.
  140. Садыхов Г.С., Кузнецов В.И., Алшехаби С. Непараметрические оценки опасных и безопасных состояний ремонтируемого объекта. Фундаментальные проблемы си-стемной безопасности. М.: ВЦ им. А.А. Дородницына РАН, 2008. Вып. 1. С. 260–266
  141. Садыхов Г.С., Алшехаби С. Оценка длительности безопасной эксплуатации и допустимого числа безопасных срабатываний свыше назначенных уровней для ста-реющих техногенно-опасных объектов // Проблемы машиностроения и надежности машин, 2008. № 3. С. 120–126.
  142. Садыхов Г.С., Некрасова О.В. Непараметрические и предельные оценки дли-тельности безопасного срока эксплуатации техногенно-опасных объектов / Тр. ин-ститута системного анализа РАН, 2010. Т. 53. С. 191–198.
  143. Садыхов Г.С., Некрасова О.В. Расчет показателей безопасности эксплуатации подсистемы с параллельно нагруженными элементами в составе техногенно-опасного обьекта // Проблемы машиностроения и надежности машин. 2011. № 1. С. 107–113
  144. ГОСТ Р50779.28–2007 (МЭК 61710:2000). Статистические методы. Степенная модель, критерии согласия и методы оценки. М.: Изд-во стандартов, 2007. 27 с.
  145. Crow L.H. Confidence Intervals Procedures for the Weibull Process With Applica-tions to Reliability Growth. Technometrics, 1982. Рр. 67–72.
  146. Сидняев Н.И. Теория планирования эксперимента и анализ статистических данных: учеб. пособие. Изд. 2-е, перераб. и доп. М.: Юрайт, 2014. 495 с.
  147. Кокс Д., Оукс Д. Анализ данных типа времени жизни. М.: Финансы и стати-стика, 1988. 191 с.
  148. Рыжкин А.А., Слюсарь Б.Н., Шучев К.Г. Основы теории надежности: учеб. пособие. Ростов на/Д: ИЦ ДГТУ, 2002. 182 с.
  149. Епифанов Г.И. Физические основы микроэлектроники. М.: Сов. радио, 1971. 376 c.
  150. Красулин Ю.Л., Назаров Г.В. Микросварка давлением. М.: Металлургия, 1976. 160 с.
  151. Богородицкий Н.П., Пасынков В.В., Тареев Б.М. Электротехнические матери-алы. Л.: Энергоиздат, 1985. 304 с.
  152. Шанк Ф.А. Структуры двойных сплавов / пер. с англ. М.: Металлургия, 1973. 760 с.
  153. Физическая энциклопедия / под ред. А.М. Прохорова. В 6 т. М.: Большая Рос-сийская энциклопедия, 1992. Т. 3. Магнитоплазменный—Пойтинга теорема. 672 с.
  154. Малафеев С.И., Копейкин А.Н. Надежность технических систем. Примеры и задачи: учеб. пособие. СПб.: Лань, 2012. 320 с.
  155. Физические величины: Справочник / А.П.Бабичев, Н.А. Бабушкина, А.М. Брат-ковский и др.; под ред. И.С. Григорьева, Е.З. Мейлихова. М.: Энергоатомиздат, 1991. 1232 с.
  156. Горюнов Н.Н. Транзисторы. Полупроводниковые приборы: Справочник. М.: Энергоатомиздат, 1985. 904 с
  157. Борицкая Л.Н. Модель распределения ионов в пленке окисла полупроводника вблизи р–n-перехода / Тр. МИИТ. М., 1977. Вып. 552. 45 с.
  158. Павлов И.В. Расчет и оптимизация некоторых характеристик для модели вы-числительного комплекса // Информатика и ее применение. 2012. Т. 6. Вып. 2. С. 59–62.
  159. Сидняев Н.И. Математическое моделирование оценки надежности объектов сложных технических систем // Проблемы машиностроения и надежности машин. 2003. № 4. С. 24–31.
  160. Шишонок Н.А., Репкин В.Ф., Барвинский Л.А. Основы теории надежности и эксплуатации радиоэлектронной техники. М.: Сов. радио, 1964. 551 с.
  161. Животкевич И.Н. Создание методов оценки эксплуатационно-технических характеристик и испытаний бортового электронного оборудования авиационных си-стем на основе многоуровневой системы моделей. Ч. 2. Методы проведения ускорен-ных испытаний и синтеза характеристик отказоустойчивых систем // Вестник воен-ного регистра. 2001. № 8. С. 11–19.
  162. Коненков Ю.К., Ушаков И.А. Вопросы надежности радиоэлектронной аппара-туры при механических нагрузках. М.: Сов. радио, 1975. 144 с.
  163. Митчелл Дж., Уилсон Д. Поверхностные эффекты в полупроводниковых при-борах, вызванные радиацией. М.: Атомиздат, 1970. 28 с.
  164. Москатов Г.К. Надежность адаптивных систем. М.: Сов. радио, 1973. 104 с.
  165. Федоров В.А., Сергеев Н.П., Кондрашин А.А. Контроль и испытания в проек-тировании и производстве радиоэлектронных средств. М.: Техносфера, 2005. 502 c.
  166. Рубаха Е.А., Синкевич В.Ф. Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов / под ред. Ю.Г. Миллера. М.: Сов. радио, 1976. 320 с
  167. Чернышев А.А., Горюнов Н.Н., Галеев А.П. Анализ отказов кремниевых пла-нарных транзисторов с помощью гамма-обработки / Тез. докладов 2-го всесоюзного совещания «Физика отказов». М.: Наука, март 1979. С. 44–45.
  168. Алексанян И.Т., Вернер В.Д., Григорашвили Ю.Е. Модели диффузионных от-казов термокомпрессионных соединений ИС // Электронная техника. Сер. 8. Управ-ление качеством, стандартизация, метрология, испытания, 1979. Вып. 4(74). С. 5–7.
  169. Электрические и оптические явления в диоксиде ванадия вблизи фазового пе-рехода полупроводник–металл / А.В. Ильинский, В.А. Климов, С.Д. Ханин и др. // Изв. РГПУ им. А.И. Герцена, 2006. № 15. URL: http://cyberleninka.ru/article/n/elektricheskie-i-opticheskie-yavleniya-v-diokside-vanadiya-vblizi-fazovogo-perehoda-poluprovodnik—metall (дата обращения: 03.07.2013)
  170. Павлов И.В. Вычисление некоторых показателей качества и надежности для системы с параллельно нагруженными элементами // Вестник МГТУ им. Н.Э. Баума-на. Сер. «Естественные науки», 2012. Спец. вып. № 7. С. 8–17.
  171. Павлов И.В. Статистические методы оценки надежности сложных систем. М.: Радиосвязь, 1982. 168 с.
  172. Стекольников Ю.И. Живучесть систем. СПб.: Политехника, 2002. 155 с.
  173. Горлов М.И., Емельянов В.А., Строгонов А.Н. Геронтология кремниевых ин-тегральных схем. М.: Наука, 2004. 240 с.
  174. Булгаков О.М. Некоторые приложения декомпозиционных моделей мощных ВЧ и СВЧ транзисторов на основе изоморфно-коллективного подхода. Воронеж: Во-ронежский гос. ун-т, 2006. 236 с.
  175. Булгаков О.М. Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология) / Материалы докладов XXXV Между-народного научно-технического семинара (Москва, 9—12 ноября 2004 г.) М.: МНТОРЭС им. А.С. Попова, МЭИ(ТУ), 2004. 152 с.
  176. Конский И.И., Горюнов Н.Н., Каверзнев В.А. Устройство для оптического контроля интегральных схем. Авт. свид. № 594467, бюл. изобр. № 7, 1978.
  177. Воронков И.Е., Ходневич А.Д. Расчет вольт-амперной характеристики p–n-перехода на начальном участке лавинного пробоя // Электронная техника, 1977. Сер. 1. Вып. 6. С. 106–108.
  178. Воронков И.Е., Ходневич А.Д., Ходневич С.П. Исследование неоднородности лавинного пробоя p–n-переходов диодов с помощью производных их вольт-амперных характеристик // Электронная техника, 1977. Сер 1. Вып. 8. С. 35–44.
  179. Зайцев А.А., Каменецкий Ю.А., Шибанов А.П. Влияние электростатических разрядов на транзисторы. В кн.: Полупроводниковые приборы и их применение / под ред. Я.А. Федотова. М.: Сов. радио, 1971. Вып. 25. С. 441–462.
  180. Богородицкий Н.П., Гедзюн В.А., Мандрыка Н.А. Высоковольтные керамиче-ские конденсаторы. М.: Сов. радио, 1970. 207 с.
  181. Гедзюн В.А., Семенов А.И. Электрическая прочность радиокерамики при воздействии электрического поля низкой частоты // Электронная техника, 1972. Сер. 5. Вып. 1(26). С. 166–172.

Отзывы

Оставить отзыв +
Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу с сайтом.
Установите актуальную версию вашего браузера или одну из современных альтернатив.