Нанотехнология и микромеханика. Часть 5. Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе

Авторы:

В. Д. Шашурин, Н. А. Ветрова, Ю. А. Иванов, С. А. Мешков, О. С. Нарайкин, Н. В. Федоркова, В. О. Москаленко

барьер Шоттки вероятность газофазная эпитаксия гетеродины гетероструктуры деградация параметров диоды микромеханика молекулярно-лучевая эпитаксия наноприборы нанослои нанотехнология наработка до отказа показатели надежности поле допустимых значений постепенный отказ потенциальная яма потенциальный барьер резонансно-туннельные диоды резонансное туннелирование смесители радиосигналов уровень Ферми функции качества чувствительность экспертные оценки

Учебное пособие Метрология, стандартизация, сертификация Нанотехнологии Электроника

Бумажная

Электронная

Формат: 60x84/16
Переплёт: мягкий
Год издания: 2012 г.
Объём: 88 стр.
Объём: 5.12 п.л.
Номер издания: 1
Вес: 123 г.
ISBN:

О книге

Проанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения - на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов.

Для студентов старших курсов.

Отзывы

Оставить отзыв +