Бумажная
Электронная
  • Формат: 60x84/16
  • Переплёт: мягкий
  • Год издания: 2012 г.
  • Объём: 88 стр.
  • Объём: 5.12 п.л.
  • Номер издания: 1
  • Вес: 123 г.
  • ISBN:
  • Формат: PDF
  • Объём: 88 стр.
  • Год издания: 2012 г.
  • Номер издания: 1
  • ISBN:

О книге

Проанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения - на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов.

Для студентов старших курсов.
Список литературы
  1. Приемные системы спутникового телевидения / И.П. Бушминский, Д.И. Кузнецов, А.А. Романов и др. М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2002. 320 с.
  2. Бонч-Бруевич В.Л., Калашников С.Г. Физика полупроводников: Учеб. пособие для вузов. 2-е изд., перераб. и доп. М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит. 1990. 688 с.
  3. Мокеров В.Г. Наногетероструктуры в сверхвысокочастотной полупроводниковой электронике. М.: Техносфера, 2010. 435 с.
  4. Кобаяси Н. Введение в нанотехнологию / Пер с яп. А.В. Хагояна; Под ред. проф. Л.Н. Патрикеева. М.: Бином. Лаборатория знаний, 2008. 138 с
  5. Шишкин Г.Г., Агеев И.М. Наноэлектроника: элементы, приборы, устройства. М.: Бином. Лаборатория знаний, 2011. 408 с.
  6. Ветрова Н.А., Хныкина С.В., Шашурин В.Д. К вопросу о прогнозировании качества смесителей радиосигналов на основе РТД на этапе их сборки // Сборка в машиностроении, приборостроении. 2010. № 4. C. 30—37.
  7. Повышение показателей качества радиоэлектронных систем нового поколения за счет применения резонансно-туннельных нанодиодов / Ю.А. Иванов, С.А. Мешков, Н.В. Федоркова, В.Д. Шашурин и др. // Наноинженерия в приборостроении. 2011. № 1. С. 34—43.
  8. Mizuta H., Tanoue T. The Physics and Applications of Resonant Tunnelling Diodes (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelec-tronic Engineering). Cambridge University Press. 1995. 256 p.
  9. Ермолаев Ю.П. Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства электронных устройств в условиях применения высоких технологий. Казань: Новое знание, 2006. 96 с.
Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу с сайтом.
Установите актуальную версию вашего браузера или одну из современных альтернатив.