О книге
Учебное пособие состоит из шести базовых модулей, а также трех дополнительных модулей для групп с более высоким уровнем языковой подготовки и для магистрантов. Тексты первых трех модулей посвящены микроэлектромеханическим системам и устройствам (MEMS) и их практическому применению. В каждом модуле тексты снабжены терминологическим словарем. Посредством разнообразных заданий организованы различные формы работы с текстом. В качестве базы для становления коммуникативных компетенций разработаны лексические и грамматические упражнения, предназначенные для формирования речевых навыков. В пособии приведены оригинальные научные материалы из англоязычных журналов.
Для студентов старших курсов факультета "Радиоэлектроника и лазерная техника", обучающихся по специальности "Инженерные нанотехнологии в приборостроении".
Список литературы
- Борисенко В.Е. Наноэлектроника — основа информационных систем 21 века. Соросовский образовательный журнал, 1997. № 5. С. 100–104.
- Craighead H.G. Nanoelectromechanical Systems. Science, November 2000.
- Craighead H.G. Nanoelectromechanical Systems. Science. 24, November 2000. Vol. 290, pp. 1532–1535.
- Dignen B. Fifty ways to improve your presentation skills in English. Summertown Publishing, 2007.
- Geim A. K. and Kim P. Carbon Wonderland. Scientific American. April 2008. Vol. 298, no. 4, pp. 90–97.
- Grussendorf M. English for Presentations. Oxford University Press, 2011.
- Hornyak T. RFID Powder. Scientific American. February 2008. Vol. 298, no. 2, pp. 68–71.
- Ochler F., Baron T., Roviere J. Hidden defects in silicon nanowires. Nanotechnology. 23, 2012.
- Radack D.J. and Zolper J.C., eds. Moving Off the Roadmap. Special issue of Proceedings of the IEEE. February 2008. Vol. 96, no. 2.
- Ran T., et al. Molecular Implementation of Simple Logic Programs. Nature Nanotechnology. October 2009. Vol. 4, pp. 642–648.
- RFID Journal. Available at: http://www.rfi djournal.com
- The Next 20 Years of Microchips. Scientific American. January 2010. Vol. 302, no. 1, pp. 83–89.
- Want R. RFID: A Key to Automating Everything. Scientific American. January 2004. Vol. 290, no. 1, pp. 56–65.
- Williams D. and Carter C. Transmission Electron Microscopy. Springer, 1996.