О книге
Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий.
Для студентов и аспирантов специальностей "Технологии приборостроения", "Технологии электронных средств", "Нанотехнологии".
Список литературы
- : . : . 1:.. , .. , .. . .: - . .. . 2003. 48 .
