О книге
Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением.
Для студентов, изучающих дисциплины "Методы структурного анализа", "Материаловедение", "Современные методы исследования материалов", "Материалы микро- и наноэлектроники" и др.
