О книге
Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением.
Для студентов, изучающих дисциплины "Методы структурного анализа", "Материаловедение", "Современные методы исследования материалов", "Материалы микро- и наноэлектроники" и др.
Список литературы
- Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы иссле-дования и контроля. М.: Техносфера, 2004. 384 с.
- Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: МИСиС, 2002. 358 c.
- Жигалина О.М. Электронная микроскопия высокого разрешения для наноматериалов: метод. пособие / Ин-т кристаллографии РАН. М., 2005. 38 с.
- Кларк Э.Р., Эберхардт К.Н. Микроскопические методы исследова-ния материалов. М.: Техносфера, 2007. 376 с.
- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия / Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. М.: Метал-лургия, 1992. 632 с
- Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. М.: Техносфера, 2006. 265 c.
- Фульц Б., Хау Дж. Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов. М.: Техносфера, 2011. 903 с.
